Automatisering bij galvaniseren: efficiëntere productcontrole dankzij de op plaatsbepaling gebaseerde oplossing

4-mrt-2024

De digitale revolutie is in volle gang, en dat is geen wonder: een geautomatiseerde processtructuur die zelfs handmatige processen ten goede komt, betekent niet alleen een aanzienlijke kostenbesparing, maar verhoogt ook de productiviteit en verbetert de transparantie. Een aantrekkelijk vooruitzicht voor veel spelers in de sector - waaronder de JentnerGroup. Op zoek naar een mogelijkheid om zijn workflows te automatiseren en tegelijkertijd alle bijbehorende processen op te volgen, stuitte de onderneming op het Tag-LOC System van SICK. Het systeem werd speciaal ontwikkeld om materialen, ladingdragers en transportwagentjes in realtime te lokaliseren en te volgen.

An automated process structure saves costs, increases productivity and improves transparency.
An automated process structure saves costs, increases productivity and improves transparency.

RFID-technologie als eerste stap

JentnerGroup, gevestigd in Pforzheim, Duitsland, is een toonaangevende dienstverlener op het gebied van galvaniseren op contractbasis en metaalafwerking. Om ervoor te zorgen dat dit zo blijft, slaat de onderneming nieuwe wegen in op het gebied van galvaniseren. In een eerste stap naar volledige automatisering werd het bestaande PDA-systeem (productiegegevensverwerving) in de zomer van 2019 aangevuld met RFID-technologie (Radio Frequency IDentification) - een eerste mijlpaal werd bereikt.

 

UWB-technologie als logisch gevolg

Hoewel hiermee al veel was bereikt, wilde de onderneming de extra mogelijkheid van een fabrieksbrede realtime lokalisatie met een positioneringsnauwkeurigheid in het decimeterbereik. Omdat de RFID-techniek hier zijn grenzen had bereikt, werd in 2022 overgeschakeld op UWB-sensortechnologie (ultra-breedband) in de vorm van het Tag-LOC System van SICK.

 

The Tag-LOC system from SICK is used by the JentnerGroup.
The Tag-LOC system from SICK is used by the JentnerGroup.

Samenspel van Tag-LOC System en Asset Analytics

Bij JentnerGroup werd het systeem van SICK aanvankelijk gebruikt in het galvanisatieproces van de vaten. De antennes boven de galvanisatielijnen ontvangen de signalen van de tags op de galvanisatietonnen. De time stamps worden doorgestuurd naar het softwareplatform Asset Analytics en maken zo de automatische identificatie mogelijk van alle productieonderdelen en de berekening en tracering van hun positie doorheen het volledige meerfasige galvanisatieproces. Asset Analytics kan ook worden gebruikt om sensorgebaseerde gegevens te registreren door RFID- of barcodesystemen te integreren en te verwerken tot procesrelevante informatie.

Engineering Tools
Software voor de digitalisering van Shopfloor-Assets
Asset Analytics
Lokalisatiesystemen
Nauwkeurig lokaliseren, traceren en beheren van activa
Tag-LOC System
Tag-LOC sends an event message to the Jentner Smart Plating System (JSPS) when certain processes are recognized.

Dit betekent dat de JentnerGroup profiteert van uitgebreide gegevens m.b.t. de materiaalstroom op basis van technologieonafhankelijke software en alles in de gaten houdt via een centrale gebruikersinterface. Concreet betekent dit dat zodra een vat of een rek met goederen met een duidelijk identificeerbare UWB-tag het gebied boven een elektrolyt of gootsteen binnenkomt of verlaat, het Tag-LOC System dit proces herkent op basis van de positiegegevens en een overeenkomstig gebeurtenisbericht stuurt naar het in eigen beheer ontwikkelde JSPS (Jentner Smart Plating System, voorheen BDE). Dit intelligente systeem berekent de specifieke instelwaarden voor het betreffende artikel, afhankelijk van het oppervlak en de gewenste laagdikte, en stuurt deze door naar de gelijkrichter, waarna het galvaniseerproces automatisch start. Handmatige interventie is niet langer nodig en alle belangrijke gegevens worden opgeslagen en voorbereid voor mogelijke evaluaties. Bovendien was er geen ontwikkelingsinspanning nodig om Asset Analytics te verbinden met de JSPS, omdat alles eenvoudig wordt geregeld via individueel configureerbare JSON-webhooks. Dit betekent dat gebruikersspecifieke informatie voor de gebeurtenissen bij binnenkomst en vertrek kan worden verzonden en ontvangen naar elk http-geschikt station op afstand.

Robert Schröder, Product Manager Location Solutions bij SICK, die het project als consultant ondersteunt, vat samen: "Door op elk moment te weten welk deel van de goederen zich op welk punt binnen de workflow bevindt, kan de klant een voorspellende verwerking uitvoeren met constant bijgewerkte voorspellingen van de voorspelde leveringshoeveelheden en -tijden."

 

Eén fabrikant - talloze mogelijkheden

Dit vormt de hoeksteen voor een efficiëntere productcontrole. Alle kwaliteitsrelevante informatie en bijzonderheden van de galvanisatiestappen worden overgebracht naar een digitaal productiebestand. Naast nauwkeurigheid en bereik is ook de flexibiliteit verbeterd in vergelijking met het vorige systeem, terwijl het hoge energieverbruik en de interferentie met andere radiosystemen tot het verleden behoren. Het SICK-gamma omvat ook andere producten die gebruikt kunnen worden in andere domeinen zoals binnenkomende goederen, tussentijdse opslag en orderpicking. De JentnerGroup liet deze kans niet voorbijgaan en implementeerde bijkomende SICK-oplossingen naast het Tag-LOC System: de 3D snapshot camera Visionary-T kan gebruikt worden om queries uit te voeren in de logistieke zone om te controleren of de goederen aangekomen zijn en zich op de voorziene palletlocatie bevinden. De overeenkomstige informatie wordt ook naar Asset Analytics gestuurd en samen met de positiegegevens verwerkt en gevisualiseerd, zodat het personeel altijd op de hoogte is. Bovendien kunnen via webhook individuele meldingen over de hangende goederenontvangst worden verzonden via verschillende kanalen (bijv. via e-mail of Teams). De 2D vision camera InspectorP63x wordt ook gebruikt in het Prometheus project voor de geautomatiseerde behandeling van medische instrumenten met behulp van een cobot in een inspectiecel om anomalieën te detecteren op gecoate medische instrumenten.

 

Machine Vision
All-in-One-Vision-sensor met flexibele optiek en robuuste behuizing
InspectorP63x
Nooit was 3D machine vision zo eenvoudig
Visionary-T Mini
The JentnerGroup integrated the Tac-LOG system, the Visionary-T 3D snapshot camera and the InspectorP63x 2D vision camera.
The JentnerGroup integrated the Tac-LOG system, the Visionary-T 3D snapshot camera and the InspectorP63x 2D vision camera.

De volgende stappen

Als onderdeel van zijn digitale transformatie implementeert de JentnerGroup dit digitaliseringsconcept ook samen met SICK op de nieuwe locatie, die onlangs in bedrijf werd genomen. Moderne digitale gelijkrichtertechniek wordt gebruikt op 4.000 vierkante meter productieruimte voor zuivere handmatige galvanisatie van hoge kwaliteit. De Tag-LOC System-oplossing bestaat uit 26 antennes die 104 baden, twee drogers, acht werkstations voor plaatsing en vier tijdelijke opslagruimtes voor grondstoffen en productiematerialen bewaken.

Marcel Scheidig, Head of Technology bij de JentnerGroup, vat het samen: "Met onze nieuwe productiehal en de brede waaier aan toepassingsmogelijkheden van het Tag-LOC System in combinatie met de 3D-vision-camera voor automatische detectie van inkomende goederen en de AI camera voor onze Cobot van SICK, zijn we nu perfect gepositioneerd. We hebben onze datastromen volledig genetwerkt zodat we onze klanten een volledig uitgebreid, transparant digitaal productiedossier met alle relevante beïnvloedende variabelen en parameters ter beschikking kunnen stellen voor elk van hun met de hand gecoate werkstukken en hen ook kunnen voorzien van de CO2-voetafdruk van hun coating."

Marcel Scheidig, Head of Technology at the JentnerGroup.
Marcel Scheidig, Head of Technology bij de JentnerGroup
Marcel Scheidig, Head of Technology at the JentnerGroup.
Marcel Scheidig, Head of Technology bij de JentnerGroup

 

Verdere artikelen

De "ziende" cobot: 2D-positiebepaling met robotgeleidingssysteem

Meer lezen

Lokalisatie binnen en buiten: volledige transparantie in de materiaalstroom

Meer lezen