Detektion av solcellswafer i tuff driftmiljö vid waferproduktion

Efter vajersågen och före vidarebearbetning renas kiselskivorna under en våtslipningsprocess från rester som härrör från sågningsförfarandet. De sensorer som används här utsätts kontinuerligt för kemikalier. Frontlinsen eller hela höljet kan angripas a kemikalierna. Fotocellerna W4S-3 Inox påverkas däremot inte. Med IO-Link-gränssnittet (tillval) kan sensorns läsfönster övervakas kontinuerlig, vilket reducerar maskinens driftstoppstider.

  • Följande produktfamiljer kan användas
    W4S-3 Inox
    W4S-3 Inox
    Tillförlitlig, robust och mångsidigt användbar
    • ECOLAB-certifierad och testad för IP 66, IP 67, IP 68 och IP 69K
    • Robust hus av rostfritt stål (316L/1.4404)
    • Resistent mot många vanligen förekommande rengörings- och desinfektionsmedel
    • Laserliknande ljusfläck tack vare Pin-Point-teknik
    • Ställs in med revolutionerande teach-in-knapp, som består av ett insvetsat membran av rostfritt stål
    • Flexibla sensorinställningar, övervakning, utökad diagnostik och visualisering via IO-Link
    Välj
    W4-3
    W4-3
    Komplett familj med best-in-class-funktioner
    • Bästa HGA-givare i sin klass
    • Genomgående användning av PinPoint-teknik i alla varianter
    • HGA-givare med laserliknande ljusfläck för detekteringuppgifter som kräver hög precision
    • Tillförlitlig inställning med hjälp av 5-varvig-potentiometer, teach-in-knapp, teach-in via kabel eller IO-Link
    • Flexibla sensorinställningar, övervakning, utökad diagnostik och visualisering via IO-Link
    Välj