Contact
Feedback

SICK’s displacementsensoren: accurate afstandmeting op de micro- en millimeter

3-sep-2018
SICK’s displacementsensoren: accurate afstandmeting op de micro- en millimeter

 Als het gaat om afstandmeting binnen het micro- en millimeterbereik, wilt u niets aan het toeval overlaten. SICK is u graag van dienst met een zeer compleet portfolio displacementsensoren. Omdat ze alle functioneren op basis van triangulatiemeting bent u verzekerd van de hoogst mogelijke nauwkeurigheid en betrouwbaarheid. 

 
OD Mini
Overtuigt met zijn compacte, robuuste behuizing in aluminium of roestvast staal. CMOS-technologie zorgt voor een nauwkeurige meting onafhankelijk van kleur en helderheid van het oppervlak.
 
OD Value
Registreert zelfs kleine verschillen in afmeting, vorm en positie. Ideaal voor applicaties waarbij de kwaliteit direct in het proces moet worden gecontroleerd en gewaarborgd. Betrouwbaar, gebruiksvriendelijk en efficiënt. 
 
DT20 Hi
Solide oplossing voor continue kwaliteitscontroles op een afstand van maximaal 1 meter. Grote kleuronafhankelijkheid. Zelfs kleine objecten worden dankzij de roodlichtlaser exact gemeten.
 
OD1000
Nauwkeurige afstandsmeting tot maximaal 1 meter. Objectmateriaal, -kleur of –structuur brengen de sensor – en dus het productieproces – niet van de wijs. Ideaal voor uiteenlopende toepassingen met een hoge productiviteit. 
 
OD5000
Krachtige meetexpert die met een meetfrequentie tot 80 kHz ook snelle en roterende objecten meet: op de micrometer precies. Zelfs de dikte van transparant materiaal meet de sensor met slechts één sensorkop.
 
OD Max
Zeer precies optisch meetsysteem dat bestaat uit één of twee sensorkoppen op een analyse-eenheid. Ideaal voor de calculatie van twee meetresultaten: met de verschilmeting kan bijvoorbeeld dikte- of hoogteverschil van een object worden bepaald.
 
OD Precision
Super precieze afstandmeting, zelfs bij hoogglanzende, diepzwarte en half of volledig transparante materialen. U kunt tot drie sensorkoppen op de analyse-eenheid aansluiten, bijvoorbeeld voor vlakheidsmeting van oppervlakken. 
Naar boven