SICK AppSpace SensorApps
Intelligent Inspection

2D-machine-vision-oplossing op basis van Deep Learning

Uw voordelen

  • Deep Learning lost complexe toepassingen op het gebied van industriële beeldverwerking op waar op regels gebaseerde tools falen
  • Vermindert afgekeurde producten en klachten, verhoogt betrouwbaarheid en productiviteit
  • Lage totale exploitatiekosten omdat Deep Learning op het apparaat zelf wordt uitgevoerd
  • Snelle en eenvoudige installatie van toepassingen op het apparaat en geoptimaliseerde meetnauwkeurigheid en uitvoeringssnelheid dankzij training in dStudio van SICK
  • Gebruiksvriendelijk en snel aan te leren
  • Combinatie van de voordelen van traditionele op regels gebaseerde tools met Deep Learning
  • Eenvoudig uitbreiden en aanpassen van functies mogelijk

Intelligent Inspection

Overzicht

2D-machine-vision-oplossing op basis van Deep Learning

De toolset Intelligent Inspection op basis van Deep Learning maakt bij de anomaliedetectie en objectclassificatie resultaten mogelijk, die niet mogelijk zijn met op regels gebaseerde industriële beeldverwerking. De combinatie van een op voorbeelden gebaseerde aanpak met een training op het apparaat en een gebruikersvriendelijke interface effent de weg voor een vereenvoudigde ontwikkeling van oplossingen. De tools voor anomaliedetectie en classificatie zorgen ervoor dat de geïnspecteerde objecten voldoen aan de kwaliteits- en sorteringseisen. Zo kan de opbrengst worden verhoogd, afgekeurde producten worden verminderd en de klanttevredenheid worden verbeterd. Alle traditionele op regels gebaseerde beeldverwerkingssoftware-tools van de toolset Quality Inspection zijn inbegrepen.

In één oogopslag
  • Inspectie met Deep Learning
  • Tools voor anomaliedetectie en classificatie
  • Draait op ondersteunde SICK vision-sensoren
  • Labeling, training, evaluatie op het apparaat of in dStudio
  • Webbased gebruikersinterface
  • Op regels gebaseerde softwaretools inbegrepen bij levering
  • Plug-in-ondersteuning voor SICK Nova-tools

 

Artificial Intelligence Teaser Box Image
Artificial Intelligence Teaser Box Image

Industriële Artificial Intelligence

Het volledige potentieel van intelligente sensoren met Deep Learning-oplossingen benutten

Meer informatie

Voordelen

Industriële beeldverwerking die verder gaat dan traditionele beeldverwerking

Tool voor het opsporen van anomalieën

Het hulpmiddel voor het opsporen van anomalieën is geschikt voor complexe toepassingen op het gebied van industriële beeldverwerking - vooral voor toepassingen waarbij fouten niet van tevoren nauwkeurig kunnen worden gedefinieerd. Tot de toepassingsgebieden van de tool behoren de inspectie van oppervlakken, van gelaste, gelijmde of gesoldeerde onderdelen en de inspectie van spuitgietgereedschap.

Het is voldoende om alleen aan te leren met foutvrije beelden en vervolgens kunnen met behulp van de tool foutieve objecten worden onderscheiden van foutvrije objecten. De gedetecteerde fout wordt vervolgens weergegeven op een anomalie-heatmap. Dit verhoogt de productkwaliteit en de productiviteit en vermindert afgekeurde producten.

De anomalie-tool maakte de snelle inrichting en toepassing op het apparaat mogelijk. Hierbij kunnen tot 100 afbeeldingen direct op het apparaat worden aangeleerd. Als alternatief is dit inleren ook mogelijk met de SICK AppEngine-software als emulator.

Classificatietool

Met behulp van de classificatietool van de toolset Intelligent Inspection kunnen optisch vergelijkbare objecten gemakkelijk van elkaar worden onderscheiden en geclassificeerd. De tool is geschikt voor complexe classificatie- en sorteertaken in samenhang met vervormbaar, variabel, organisch en reflecterend materiaal. De tool is zeer praktisch voor de verificatie van modules en de classificatie van fouten.

De classificatietool wordt geprogrammeerd door soortgelijke beelden van alle klassen en levert als resultaat de objectklasse die in het beeld werd herkend.

De beeldregistratie en de uitvoering van de tool gebeuren op het apparaat. Om de nauwkeurigheid en de uitvoeringssnelheid te optimaliseren, worden de markering, de programmering en de evaluatie uitgevoerd met SICK dStudio. Met SICK dStudio is het mogelijk om meer dan 100 beelden te programmeren.

Vermindert afgekeurde producten en klachten, verhoogt betrouwbaarheid en productiviteit

Snelle en eenvoudige installatie van toepassingen op het apparaat en geoptimaliseerde meetnauwkeurigheid en uitvoeringssnelheid dankzij training in dStudio van SICK

Bij de tool voor anomaliedetectie vindt het hele proces voor het maken van toepassingen plaats op het apparaat zelf. Bij de classificatietool daarentegen worden markering, inleren en evaluatie uitgevoerd met behulp van dStudio.

Combineert de voordelen van traditionele op regels gebaseerde tools met Deep Learning

De toolset Intelligent Inspection draait op InspectorP6xx 2D-vision-sensoren en draagt bij aan het snel en eenvoudig creëren van toepassingen op het apparaat. Tegelijkertijd worden, dankzij de training in SICK dStudio, zowel de meetnauwkeurigheid als de uitvoeringssnelheid geoptimaliseerd.
Traditionele op regels gebaseerde tools van de toolset Quality Inspection voor industriële beeldverwerking zijn inbegrepen. Zo kunnen de voordelen van de aanwezige tool worden gebruikt in combinatie met Deep Learning-functies.
Met behulp van de Nova plug-in-tools, die beschikbaar zijn in de SICK AppPool, kunnen de functies worden uitgebreid. Als alternatief kunnen aangepaste plug-in-tools gemakkelijk worden gecreëerd met behulp van SICK's Nova plug-in-interface.

Ondersteunde producten

Productfamilies
Producten

Applicaties

Technisch overzicht

 
Alles weergeven
Alles verbergen
  • Overzicht technische gegevens

    Overzicht technische gegevens

    Taakbeschrijving

    Het trainen van neurale netwerken voor de classificatie van beelden

    Aanwezigheidscontrole

    Kwaliteitscontrole

    Classificatie

    Anomalieënherkenning

    Meten, 2D

    Technologie

    Classificatie van beelden op basis van kunstmatige neurale netwerken

    2D Snapshot

    Beeldanalyse

    Deep Learning

    Taal

    Engels

    Duits

    Frans

    Italiaans

    Spaans

    Japans

    Koreaans

    Chinees

    Ondersteunde producten

    InspectorP-serie

    SIM1012

    SIM1004

    SIM2000

    SIM2500

    SIM4000

    SICK AppEngine

    InspectorP61x

    InspectorP62x

    InspectorP63x

    InspectorP64x

    InspectorP65x

    SIM2x00 + picoCam2 / midiCam2

    Minimale beeldschermresolutie1.366 px x 768 px
    Ondersteunde browsersGoogle Chrome (versie 80 of hoger)
Alles weergeven
Alles verbergen
Alle technische gegevens vindt u bij het individuele product

Downloads