SICK AppSpace Artificial Intelligence
Deep Learning

Artificial Intelligence voor SICK-sensoren

Uw voordelen

  • Automatische, snelle, betrouwbare besluitvorming door de sensoren, zelfs voor complexe taken
  • Vermindert uw ontwikkelingsinspanning: beeldanalyses worden getraind met behulp van voorbeeldbeelden
  • Geen extra hard- en software nodig vanwege de cloud-training
  • Snelle ondersteuning van SICK-experts via het SICK Support Portal
  • Voor het trainen van de neurale netwerken is het niet nodig dat de gebruiker een goede kennis heeft van machinaal leren
  • Met een kosteloos testpakket kunt u snel beoordelen of Deep Learning geschikt is voor uw toepassing
  • Met SICK AppSpace ook bruikbaar voor zeer individuele toepassingen

Overzicht

Artificial Intelligence voor SICK-sensoren

Deep Learning van SICK opent nieuwe wegen in de industriële automatisering. Deep Learning is gebruiksvriendelijk en maakt het mogelijk om vrijwel moeiteloos in de cloud kunstmatige neurale netwerken voor SICK-sensoren te trainen met behulp van voorbeeldbeelden. Ter plaatse - in machines of installaties - kunnen de sensoren dan zelf objecten evalueren en sorteren volgens klantspecifieke criteria, zelfs als het natuurlijke uiterlijk van de objecten varieert.

In één oogopslag
  • Interferentie vindt direct op programmeerbare SICK-producten plaats
  • Training neurale netwerken in de SICK-cloud
  • Ondersteuning via het SICK Support Portal
  • Voor SICK-producten geoptimaliseerde neurale netwerken
  • Kosteloos testpakket op verzoek
  • Deep Learning maakt deel uit van het Eco-systeem SICK AppSpace

 

Artificial Intelligence Teaser Box Image
Artificial Intelligence Teaser Box Image

Industriële Artificial Intelligence

Het volledige potentieel van intelligente sensoren met Deep Learning-oplossingen benutten

Meer informatie

Ondersteunde producten

Productfamilies
Producten

Applicaties

Technisch overzicht

 
  • Overzicht technische gegevens

    Overzicht technische gegevens

    Taakbeschrijving

    Het trainen van neurale netwerken voor de classificatie van beelden

    Classificatie van beelden met behulp van een neuraal netwerk dat eerder werd gecreëerd met SICK's dStudio.

    TechnologieClassificatie van beelden op basis van kunstmatige neurale netwerken
    TaalEngels
    Ondersteunde producten

    SIM1012

    InspectorP61x

    InspectorP62x

    InspectorP63x

    InspectorP64x

    InspectorP65x

    SIM4000

    Ondersteunde browsersGoogle Chrome (versie 80 of hoger)
Alle technische gegevens vindt u bij het individuele product

Downloads