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変位測定センサ

Nm単位で高精度な光学距離測定による一貫した高い製品品質

変位測定センサは、最大1,000 mmまでの測定範囲で正確に測定するレーザセンサです。その測定正確度により、特に品質またはコストに関わるプロセスでの制御、仕分けまたは点検に使用されます。測定する特性は寸法、位置および形状などです。SICKの変位計を使用すると、100%完璧な点検により最終製品の品質を改善できるだけでなく、材料とダウンタイムのコストも減少させることができます。

フィルタ:
6.2 mm 200.0 mm
10.0 mm 1000.0 mm

10 ヒット数:

ヒット件数 1 - 10 / 10

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製品群 OD Value
簡単で正確な測定
  • 26 mm~34 mmから100 mm~500 mmまでの複数の測定範囲
  • CMOS受光エレメントを使用した、表面を選ばない非常に正確な測定
  • LEDベースの簡単な操作または学習コンセプト
  • 多くの標準インタフェースを含む多様な製品
  • 極小の対象物を正確に測定するためのレーザ技術
  • コンパクトなスタンドアロン型装置
  • 抜群のコストパフォーマンス
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製品群 OD Precision
各寸法を高精度で特定
  • 24 mm~26 mmから300 mm~700 mmまでの多数の測定範囲
  • CMOS受光エレメントを使用した、表面を選ばない測定
  • 最高の測定正確度とサンプリング周波数
  • センサヘッド1個のみでのガラス厚さ測定
  • さまざまな光点サイズ
  • センサ3台までの統合された計算
  • RS-422経由のスタンドアロン動作
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製品群 OD Max
評価ユニット内の2台のセンサ: 非常に正確な測定と計算
  • 24 mm~26 mmから250 mm~450 mmまでの複数の測定範囲
  • CMOS受光エレメントを使用した、表面を選ばない測定
  • 高いサンプリング周波数と高いリニアリティ
  • 2個のセンサ計算用のさまざまな計算式
  • 極小の対象物を正確に測定および検知するためのレーザ技術
  • 多様な出力オプション
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製品群 Profiler
線は単なる点より多くのことを伝えてくれます
  • レーザ線1本のみで複雑なプロファイルを測定
  • 同時に最大4つの範囲を分析
  • 高さ、幅、傾斜など統合された10以上の測定機能
  • 1つの装置内にセンサヘッドと評価ユニットを統合
  • ソフトウェアまたは操作エレメントと統合されたディスプレイによるコミッショニング
  • 高品質のCMOS受光ユニット
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製品群 OD Mini
容易かつ正確に測定
  • コンパクトで頑強な筺体
  • スタンドアロン型としての使用またはOD Mini評価ユニットと併用可能
  • 現在のステータスを表示するための装置ディスプレイおよびLED表示灯
  • さまざまなインタフェースを提供
  • ディスプレイまたは外部ティーチ入力を介した簡単な学習
  • Μmの範囲で正確な高速測定を行うCMOS受光ユニット
  • さまざまな測定範囲: 10 mm~250 mmまで測定可能
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製品群 OD5000
高性能の測定エキスパート
  • 最大サンプリング周波数 80 kHz
  • センサヘッドに直接内蔵されたTCP/IPプロトコルを含むEthernetインタフェース
  • パラメータ設定用のWebインタフェース
  • 革新的な評価アルゴリズム
  • 位置決めタスクにおける最高の繰り返し制度
  • 極小の凹みや穴の検出および測定
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製品群 OL1
全帯域幅における正確なトラックガイド
  • 金属製超小型筐体
  • 統合されたLEDレーザ光軸調整装置
  • 高い繰り返し精度を備えた高分解能のCMOS受光器
  • 評価ユニットAOD1を介した様々なインタフェースを利用可能
  • エッジ位置または直径の測定
  • 評価ユニットAOD1による個別のコンフィギュレーション設定と計算機能

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製品群 OD1000
長大な距離における正確な測定を実現するソリューション
  • 最大測定範囲 1 m
  • OLEDディスプレイまたは設定ソフトウェアSOPASによる簡単な設定
  • スタンドアロン機器 (外部アンプユニットなし)
  • 頑強な金属製筐体
  • 設定可能なアナログ出力 (mA/V) およびIO-Link付きプッシュプルデジタル出力
  • どのような色や表面でも正確に測定
  • 多様な取付方法
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製品群 OC Sharp
最高の精度のためのクロマティック共焦点測定技術
  • 600 µmから12 mmまでの多数の測定距離
  • 最高の信頼性と精度を提供するクロマティック共焦点センサテクノロジー
  • 最高4,000 Hzの速いサンプリング周波数
  • さまざまな材料と色での確実な測定
  • センサヘッド1個のみによる透明材料の厚さ測定 ( 30 µm以上の層厚さ向けクロマティック共焦点法および3 µm以上の層厚さ向けの干渉法)。
  • 極小の対象物を測定する非常に小さい光軸スポット
  • OC Sharpソフトウェアを使用した簡単なパラメータ化
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製品群 DT20 Hi
最大1 mまで確実かつ正確
  • 50 mm~1,000 mmまでの4つの測定範囲
  • 最大± 0.5 mmの非常に高いリニアリティ
  • CMOS受光エレメントは、色や光沢とは関係なく正確な距離測定が可能
  • 赤色光レーザ
  • 自由に拡張可能なアナログ/デジタル出力
  • 直観的に操作可能なメニュガイド
  • 拡大設定オプション (平均値算出、外部レーザオフ機能など)
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