Visión general
Dimensionamiento con control
El sistema “track and trace” VML (sistema de medición de volumen en base a rejillas fotoeléctricas) soluciona aplicaciones exigentes en la medición de objetos y determinación de la posición. Sobre la base de rejillas fotoeléctricas, el sistema VML permite determinar con precisión la envoltura rectangular más pequeña de los objetos, con independencia de las características de su superficie. De esta forma, también puede medir con fiabilidad especialmente objetos transparentes y envueltos en láminas. A partir de los datos medidos, se pueden calcular las dimensiones de los objetos y, en función de la variante del sistema, utilizarlos con fines de facturación. Gracias a su diseño modular, el VML es compatible con otras soluciones de SICK y puede ampliarse sin problema, lo que permite adaptarlo de forma individual a aplicaciones específicas.
Lo más destacado
- Exactitud de medición certificada hasta 5 mm x 5 mm x 2 mm (L x An x Al)
- En función de la variante del sistema, puede medir objetos de hasta 2.600 mm x 1.000 mm x 1.000 mm (L x An x Al)
- Permite una velocidad de cinta transportadora de más de 2 m/s
- Ofrece una integración sencilla mediante el controlador MSC800