Produktionslogistikken bliver smart
Kredsen slutter - Sensorløsninger i produktionslogistikken – selv til de mindste mellemrum i fremstillingen
Notchgenkendelse på halvlederwafere
Ved bearbejdningen af wafere er den præcise justering af substratet vigtig. 2D-vision-sensoren Inspector detekterer waferes notch-position præcist og sørger for, at de vender korrekt. Samtidigt eliminerer diffusor-forsatsen forstyrrende refleksioner af waferne. Med kvalitetskontrolsystemet Label Checker kan man desuden registrere de koder og den tekst, der er anbragt på waferne.
-
Følgende produktfamilier kan indsættes
Kompleks inspektion af etiketter med meget effektiv optisk tegngenkendelse- Optisk tegngenkendelse, 1D- og 2D-koder: Læsning, genkendelse, validering, kontrol
- Yderligere kontroller: Mønstersammenligning, måling af kantafstande, pixeltæller, blobkontrol, formgenkendelse, kontrol af trykkvalitet
- Let teach-in af brugerdefinerede skrifttyper
- Fleksibel bestykning med C-Mount-objektiver og integreret belysning
- Webbaseret brugerflade
Den intelligente billedbehandlingsløsning i den komfortable sensorpakke- Positionering, test og måling ved høj hastighed
- Effektiv “objektfinder”, uafhængig af position, drejevinkel og størrelse
- Et unikt udskifteligt hus understøtter diffusor og forskelligt optisk tilbehør
- Brugervenlig, trinvis konfiguration via PC
- Brugervenligt brugerinterface
- Fleksible interfaces til maskinintegration og HMI-design
