overblik

Sensorløsninger til halvlederindustrien
Trends & nyheder

Niveaumåling af korrosive kemikalier i halvleder-procesanlæg
I mange industrier hører udfordrende omgivelsesbetingelser af forskellig art til dagligdagen i produktionen. Systemer og sensorer, der sørger for en sikker produktionsproces, skal især beskyttes mod kraftig kontaminering og aggressive kemikalier. I front-end-produktionens kerneprocesser kan man ikke undvære for eksempel kemikalier til overfladebehandling og rengøring af halvlederwaferne.
> Mere

Kontrolinstans og garant for kvaliteten i alle anvendelser
I elektronikindustrien er kvalitet og præcision er væsentlige forudsætninger for intelligente produktionskoncepter: Kun når værditilvæksten ledsages af løbende analyse af måleresultaterne, kan man sikre en høj kvalitet af de enkelte komponenter helt hen til slutproduktet. SICKs optiske måleteknik kombinerer præcision og kvalitet til en enhed – med måleinstrumenter, der er indbygget direkte i produktionsprocessen.
> Mere
udfordringer

Detektering og måling
Halvlederindustrien stiller meget store krav til detektions-og måleopgaver. Det gælder om at detektere selv de mindste dele såsom samleledninger eller krævende overflader af halvlederwafere. I mange procesmaskiner udsættes sensorerne samtidigt for barske omgivelsesbetingelser. Heriblandt er kontakten til kemikalier, høje temperaturer og omgivelser med vakuum. Takket være den omfattende teknologiportefølje klarer SICKs sensorløsninger udfordringerne.

Sikring
I halvlederindustrien er det ikke kun maskinerne, der skal sikres, for at beskytte mennesker og processer. Sikkerhedsteknik anvendes også i forbindelse med autonome logistikprocesser. SICK støtter halvleder- og anlægsproducenterne med en omfattende teknologiportefølje af Safety Solutions. Desuden bistår SICK kunderne med et omfattende udbud af serviceydelser, som bl.a. består af rådgivning, support ved idriftsættelsen såvel som træning og uddannelse.

Overvågning og kontrol
Halvlederwafere og -chips skal leve op til meget store kvalitetskrav. I forbindelse med kvalitetskontrollen af de meget små konstruktioner på halvlederwafere og -chips er der brug for løsninger med ekstremt præcise målinger. 2D Machine Vision og short-range-afstandsmålere (displacement) med høj opløsning sikrer, at test- og inspektionsanlæggene opfylder disse krav.

Identifikation
Pålidelig objektdetektion er en forudsætning for en glidende produktion og udgør grundlaget for sporbarhed og løbende kvalitetsforbedring. SICK tilbyder en bred portefølje af fast installerede og mobile enheder til læsning af stregkoder, 2D-koder og RFID-teknologi.