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对托盘中半导体芯片的可靠的就位检测

在空间狭窄时,如何对运输托盘中半导体芯片进行可靠的检测,是提高机器产能这一课题的重要方面。在此,SICK 的光纤传感器 WLL180T 正是适合的解决方案。其可靠的技术、极短的反应时间 (16 µs) 和与 LL3 系列微型光导纤维体的通用组合确保在狭小空间内也能可靠而迅速地检测。该方案相对于摄像机系统不仅更经济,而且完全契合机器的要求。

  • 以下产品系列可以使用
    产品系列 LL3
    头等重要:SICK 光纤
    • 种类广泛的塑纤和玻纤
    • 耐高温、耐腐蚀光纤
    • 螺纹和光滑衬套,顶部窗口(阵列),90° 可旋转版本
    • 聚焦光路
    • 按钮和直射原则
    • 塑料外壳,金属保护套或特氟龙外套
    产品系列 WLL180T
    扫描范围和性能的全球领导者
    • 可选的响应时间高达 16 μs
    • 触发感应距离达 20 m(直射系统);达 1400 mm(漫反射系统)
    • 抗干扰通讯
    • 2 x 4 位数显
    • 可调节迟滞现象
    • 可旋转显示屏
    • 高分辨率的信号处理
    • 可编程的定时器
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