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位移测量传感器
Profiler

一条线胜于一个点

您的受益

  • 只使用一个传感器就能测量轮廓,节省了硬件和安装成本
  • 用于二维轮廓测量的低成本解决方案
  • 通过集成的 LC 显示屏实时显示测量结果
  • 通过软件或显示屏直观、快速地调试缩短了安装时间
  • 借助 Profiler 2 独立式方案,无需敷设电缆以及安装额外的评价单元
  • 不受颜色、材料或形状的影响,可靠地进行测量
  • 通过十个集成的测量功能可以快速测量并分析轮廓

概览

一条线胜于一个点

位移测量传感器 Profiler 2 以高精度测量 x 轴和 z 轴以及复杂对象的表面。在单次测量中,可以同时对多达四个区域进行分析。对于每个区域均可选择十个内置测量功能之一,例如高度或宽度。Profiler 2 中集成的评价单元节省了安装时间及安装成本。因此,该传感器是用于型面测量的最经济解决方案。内置 CMOS 接收单元保障了稳定的测量,同时附带的软件使调试简单易行,并出色实现了测量过程的可视化。集成的 LC 显示屏提供了实时可视化。

概览
  • 只使用一条激光束就能测量复杂的轮廓
  • 可同时分析最多四个区域
  • 通过十个集成的测量功能,如高度、宽度和倾斜度
  • 设备中的传感器头和评价单元
  • 通过软件或带操作元件的集成显示屏进行调试
  • 高质量的 CMOS 接收单元

应用

技术概览

 
  • 技术参数概览

    技术参数概览

    测量范围75 mm ... 125 mm
    线性度

    ± 170 µm ... ± 270 µm

    ± 50 µm

    重复精度

    25 µm, X 方向

    2 µm, Z 方向

    响应时间≥ 5 ms
    数字输出

    3 x PNP

    3 x NPN

    串行✔ , RS-485
    模拟输出端
    数量1
    类型电流输出
    运行环境温度–10 °C ... +40 °C, 在 UV = 24 V 时的运行温度
    存储环境温度–20 °C ... +60 °C
所有技术数据请参见各个产品

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