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位移测量传感器
OL1

全面实现精确轨迹导引

您的受益

  • 坚固的微型外壳使其能够用于极其狭小的安装空间
  • 借助传感器头上基于 LED 的校准辅助装置与显示屏参数设置,实现快速调试与简单机器集成
  • 通过微米级精度的厚度测量达到质量优化
  • 精确的边缘位置检测确保可靠的卷幅材料流程控制

产品选择

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6065943
OL1
位移测量传感器
  • 测量范围: 10 mm
  • 通讯接口: 串行
  • 典型光点尺寸(距离): 3 mm x 14 mm
  • 外壳材料: 压铸铝
  • 连接类型: 电缆带插头,M8,4 针, 用于连接至 AOD1 评价单元的 Y 型电缆
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概览

全面实现精确轨迹导引

OL1 光学测微计因其微型结构而备受青睐,即使机器间距极小仍具有充足的安装空间。凭借 LED 校准辅助装置与集成在 AOD1 评价单元中的光带校准功能,可轻而易举地安装和校准发射与接收单元。OL1 传感器在高度精确的纠偏控制方面极具优势,例如针对电池生产中电极材料的重复精确导引或者用于薄晶片的双张检测。由于储备功率高,OL1 精确测定半透明材料的边缘位置或将薄织线或金属丝可靠导回至正确轨迹。

概览
  • 微型金属外壳
  • 集成式 LED 校准辅助装置
  • 高分辨率的 CMOS 接收器具备高重复精度
  • 通过 AOD1 评价单元可选用各种不同接口
  • 测量边缘位置或直径
  • 通过 AOD1 评价单元自定义配置设置与计算功能

优势

实现微米级精确检测

凭借 10 mm 光带宽度和高重复精度,OL1 光学测微计成为满足有限空间中高性能要求的理想选择。无论是极为细小的物体、织线还是卷幅材料:激光级别为 1 的传感器均可实现微米级精度的厚度测量和定位,从而确保可靠的流程控制。
可靠检测小至 0.2 mm 的物体
由于重复精度高达微米级,材料导引高度精确
发射器与接收器的间距可达 300 mm,使用灵活

高性能稳定性:OL1 精确测量材料厚度和边缘位置,重复精度高达微米级。

用途广泛,尺寸紧凑

OL1 的宽度仅为 9.6 mm,可以灵活地集成至空间有限的设备中。借助设备上的 LED 对准辅助装置轻松对准光带。传感器也可选择通过评价单元 AOD1 由外部便捷配置。由此确保光学测微计在多种生产环境中的快速调试。
坚固的微型金属外壳
紧凑的传感器设计允许在狭窄的安装空间中使用
通过显示屏参数设置和 LED 对准辅助装置直观对准

快速调试:由于对准简便,发射器和接收器甚至能够轻松集成至微型机器单元中。

应用

技术概览

 
  • 技术参数概览

    技术参数概览

    测量范围10 mm
    线性度± 40 µm
    重复精度10 µm
    响应时间≥ 0.5 ms
    测量频率≤ 2 kHz
    开关量输出3 x PNP/NPN,可选择 1)
    串行
    模拟输出端1 x 4 mA ... 20 mA (≤ 300 Ω) 1)
    运行环境温度–10 °C ... +50 °C 2)
    存储环境温度–20 °C ... +60 °C
    • 1) 通过 AOD1 评价单元.
    • 2) 在 UV = 24 V 时的运行温度.
所有技术数据请参见各个产品

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