联系方式
意见反馈

位移测量传感器

通过光学和 nm 精度的距离测量实现一致性和高产品质量

位移测量传感器是用于精确测量的激光传感器,测量范围达 1,000 mm。由于其测量精度,该传感器尤其适用于与质量或成本相关的控制、分类或测试过程。可测量的特性包括例如尺寸、位置和形状。在应用位移测量传感器时,您可以通过 100% 检测改善成品质量,同时降低材料成本和停机成本。

筛选依据:
6.2 mm 75.0 mm
10.0 mm 700.0 mm

7 匹配:

匹配 1 - 7 7

视图: 图库视图 列表视图
产品系列 OD Value
简单、准确测量
  • 多种测量范围:从 26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 500 mm
  • 借助 CMOS 接收元件实现非常准确、不受表面限制的测量
  • 简单、基于 LED 的操作或示教方案
  • 凭借大量的标准接口实现丰富的产品多样性
  • 用于精确测量极小物体的激光技术
  • 紧凑的独立式设备
  • 卓越的性价比
产品系列 OD Max
两个传感器集成于一个评价单元:非常准确地进行测量和计算
  • 多种测量范围:从 24 mm ... 26 mm 至 250 mm ... 450 mm
  • 使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
  • 高测量频率和高线性度
  • 用于两个传感器进行计算的不同计算公式
  • 用于极准确测量和识别极小的物体的激光技术
  • 多种输出方法
产品系列 OD Precision
高精度确定所有尺寸
  • 多种测量范围:从 24 mm ... 26 mm 至 300 mm ... 700 mm
  • 使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
  • 最高测量准确度和测量频率
  • 仅使用一个传感器头进行玻璃厚度测量
  • 不同的光点尺寸
  • 多达三个传感器的集成式计算
  • 通过 RS-422 独立使用
产品系列 OD Mini
轻松精确测量
  • 紧凑型、坚固的外壳
  • 单独使用或与 OD Mini 评价单元一起使用
  • 设备上配备显示器和 LED,可对当前状态进行可视化显示
  • 提供各种接口
  • 通过显示屏或外部示教输入可进行简单培训
  • 用于快速和精确测量的 CMOS 接收单元,其测量精度在 µm 范围内
  • 各种测量范围:从 10 mm 至 250 mm 均可进行测量
产品系列 Profiler
一条线胜于一个点
  • 只使用一条激光束就能测量复杂的轮廓
  • 可同时分析最多四个区域
  • 通过十个集成的测量功能,如高度、宽度和倾斜度
  • 设备中的传感器头和评价单元
  • 通过软件或带操作元件的集成显示屏进行调试
  • 高质量的 CMOS 接收单元
产品系列 OL1
全面实现精确轨迹导引
  • 微型金属外壳
  • 集成式 LED 校准辅助装置
  • 高分辨率的 CMOS 接收器具备高重复精度
  • 通过 AOD1 评价单元可选用各种不同接口
  • 测量边缘位置或直径
  • 通过 AOD1 评价单元自定义配置设置与计算功能

产品系列 OC Sharp
最高精度的彩色共焦测量技术
  • 多种测量量程:从 600 µm 至 12 mm
  • 最大可靠性和精度的彩色共焦传感器技术
  • 至 4,000 Hz 的快速测量频率
  • 可靠测量极为不同的材料和颜色
  • 只使用一个传感器头就能测量透明材料的厚度(用于大于 30 µm 层厚度的彩色共焦以及用于大于 3 µm 层厚度的干扰测试仪)。
  • 用于测量最小物体的极小光点
  • 通过 OC Sharp 软件舒适地进行参数设置

匹配 1 - 7 7

向上