SICK AppSpace Artificial Intelligence
Deep Learning

Künstliche Intelligenz für SICK-Sensoren

Ihr Nutzen

  • Automatische, schnelle und zuverlässige Entscheidungen durch den Sensor, auch bei komplexen Aufgabenstellungen
  • Reduzieren Ihres Entwicklungsaufwands: Bildanalysen werden anhand von Beispielbildern trainiert
  • Kein zusätzlicher Hard- oder Softwarebedarf dank Cloud- und On-Device-Training
  • Schnelle Unterstützung über das SICK Support Portal
  • Training von Deep-Learning-Modellen erfordert bei den Anwendenden keine fundierten Kenntnisse über maschinelles Lernen
  • Schnelle Ermittlung, ob sich Deep Learning für Ihre Anwendung eignet mithilfe des kostenlosen Probeangebots
  • Einfaches Konfigurieren der Kamera mit der SICK Intelligent Inspection SensorApp

Übersicht

Künstliche Intelligenz für SICK-Sensoren

Deep Learning von SICK eröffnet neue Wege in der Industrieautomatisierung. Deep Learning ist bedienungsfreundlich in der Anwendung und ermöglicht es, SICK-Sensoren mit wenig Aufwand anhand von Beispielbildern für kundenspezifische Aufgaben zu trainieren. Vor Ort – in Maschinen oder Anlagen – können die Sensoren anschließend selbst Objekte nach kundenspezifischen Kriterien bewerten und sortieren, auch wenn das natürliche Erscheinungsbild der Objekte variiert.

Auf einen Blick
  • Inferenz findet direkt auf programmierbaren SICK-Produkten statt
  • Trainieren neuronaler Netze zum Klassifizieren von Bildern in der SICK-Cloud
  • Das Erkennen von Anomalien wird direkt auf dem Gerät mithilfe der Intelligent Inspection SensorApp trainiert
  • Deep Learning ist Bestandteil des Eco-Systems SICK AppSpace

 

Artificial Intelligence Teaser Box Image
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Industrielle künstliche Intelligenz

Das volle Potenzial intelligenter Sensoren mit Deep-Learning-Lösungen ausschöpfen

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Unterstützte Produkte

Produktfamilien
Produkte

Anwendungen

Technischer Überblick

 
  • Technische Daten im Überblick

    Technische Daten im Überblick

    Aufgabenstellung

    Trainieren neuronaler Netze zur Klassifizierung von Bildern

    Klassifikation von Bildern anhand eines neuronalen Netzes, welches zuvor mit dem SICK Produkt dStudio erstellt wurde.

    Erkennen von Anomalien auf Objekten anhand eines Modells, das zuvor im Sensor selbst eingelernt wurde.

    Technologie

    Klassifikation von Bildern auf Basis künstlicher neuronaler Netze

    Klassifikation von Bildern und Erkennung von Anomalien auf Basis künstlicher neuronaler Netze

    SpracheEnglisch
    Unterstützte Produkte

    InspectorP-Serie

    SIM1012

    SIM1004

    SIM2000

    SIM2500

    SIM4000

    SICK AppEngine

    Unterstützte BrowserGoogle Chrome (Version 80 oder höher)
Alle technischen Daten finden Sie beim Einzelprodukt

Downloads