A logística de produção se torna inteligente
O círculo se fecha – Soluções de sensores na logística de produção também para os menores espaços intermediários na produção
Detecção de entalhes em wafers semicondutores
No processamento de wafers, é muito importante o alinhamento preciso do substrato. O Vision 2D Inspector detecta de modo preciso a posição do entalhe de wafers e propicia o seu alinhamento correto. Simultaneamente, a peça adicional do difusor elimina reflexões perturbadoras dos wafers. Com o sistema de controle de qualidade Label Checker, também podem ser detectados códigos especiais e textos aplicados sobre os wafers.
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As seguintes famílias de produtos podem ser utilizadas
Inspeção complexa de etiquetas com alto desempenho de reconhecimento óptico de caracteres- Reconhecimento óptico de caracteres, códigos 1D e 2D: ler, reconhecer, validar, verificar
- Controles adicionais: comparação de amostras, medição de distâncias entre bordas, contador de pixeis, controle de blobs, detecção de formato, verificação da qualidade de impressão
- Teach-in fácil das fontes de escrita definidas pelo usuário
- Integração flexível de objetivas C-Mount e iluminação integrada
- Superfície de operação baseada na web
A solução inteligente do processamento de imagens no cômodo pacote de sensores- Posicionamento, verificação e medição a alta velocidade
- Potente “localizador de objeto”, independente da posição, ângulo de rotação e tamanho
- A carcaça permutável única apoia o difusor e os mais diversos acessórios óticos
- Fácil configuração passo a passo através do PC
- Interface de usuário fácil de usar
- Interfaces flexíveis para a integração da máquina e design HMI
