Automatização em máquinas de processo

Automatização em máquinas de processo
Detecção confiável em ambiente de processo agressivo
Monitoramento da posição de carros de wafers
Medição de nível de produtos químicos corrosivos
Detecção de entalhes em wafers semicondutores
Atribuição exata de wafers em magazines
Medição de altura para ajuste do foco
Medição de altura para ajuste do foco
Medição de altura para ajuste do foco
Medição de altura para ajuste do foco
Medição de altura para ajuste do foco
Medição de altura para ajuste do foco
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