Inspection des arêtes de scie au moyen de capteurs de déplacement

Grâce à la mesure de la profondeur d’arêtes de scie directement après le processus de scie à fil, la mise au rebut de wafers solaires peut être effectuée le plus tôt possible. Grâce à sa fréquence de mesure élevée, le capteur de déplacement OD5000 permet de passer le processus rapidement pour une inspection des arêtes de scie ultra précise.