• Inspection robuste de cellules solaires bleues, arrière plan foncé
• Eclairage UV résistant aux variations d’éclairage ambiant
• Algorithme robuste de comparaison de formes pour localiser et inspecter les pièces quelles que soient leur position, leur rotation et leur échelle
• Inspections multi-zones et affectation des sorties par expressions logiques
• Sauvegarde jusqu’à 16 programmes
• Objectif échangeable et fenêtre avant résistante aux rayures
• Configuration/vue dans le PC et supports simplifiés de pré-analyse dans l'émulateur

Avantage incontournable quelque soit votre industrie :
Inspection robuste même avec de grandes variations de lumière ambiante

Solaire

• Détection de bords de wafer endommagés
• Détection de wafer fissurés
• Détection de fragments de wafer étrangers