• Betrouwbare deeltjesinspectie van diepblauwe zonnecellen op een donkere achtergrond
• Ongevoelig voor UV-verlichting en omgevingslicht
• Betrouwbaar algoritme om patronen te vergelijken en zo deeltjes te lokaliseren, ongeacht hun positie, rotatie en schaal
• Inspecties van verschillende kenmerken en output aan de hand van logische expressies
• Slaat tot 16 referentiesjablonen op
• Verwisselbare lens en krasbestendig venster vooraan
• Gemakkelijk te configureren/bekijken met de pc en support voor postanalyse in de emulator

Productie zonnepanelen

• Detecteert schade aan waferkanten
• Detecteert barsten in wafers
• Detecteert vreemde waferfragmenten

Toepasbaar in elke industrie :

• Betrouwbare deeltjesinspectie, zelfs bij omgevingslicht dat frequent varieert