• Zuverlässige Prüfung von dunkelblauen Solarmodulen auf dunkelem Hintergrund
• Durch UV-Beleuchtung unempfindlich gegenüber Umgebungslicht
• Sicherer Mustervergleich-Algorithmus zum Auffinden von Teilen unabhängig von Position, Drehwinkel und Größe
• Simultane Mehrfachprüfungen und Ergebnisausgabe durch Verknüpfungen von Einzelprüfergebnissen
• Speichern von bis zu 16 Referenzmustern
• Wechselbares Objektiv und kratzfeste Frontscheiben
• Einfache Konfiguration und Kontrolle am PC und Prüfauswertung im Emulator

Solartechnik

• Prüfung auf Beschädigungen an Waferkanten
• Erkennung von Bruchstellen bei Wafern
• Erkennung von Fremdkörpern bei Wafern 

Vorteile für alle Anwendungsgebiete

• Zuverlässige Teileprüfung bei stark variierendem Umgebungslicht und stark lichtabsorbierenden Objekten